產品詳情
簡單介紹：
上海鑄金分析儀器有限公司可為用戶提供掃描電子顯微鏡品牌、型號、價格相關技術交流。本頁面展示的是日立(Hitachi)掃描電子顯微鏡FlexSEM 1000 II，含參考圖片、簡介、規格。相關信息僅供參考，如有相關儀器需求，可聯系鑄金交流。
詳情介紹：
FlexSEM 1000 II，憑借全新設計的電子光學系統和高靈敏度檢測器，可在加速電壓20 kV下實現4.0 nm的分辨率。全新的用戶界面，具有亮度和對焦自動調節功能，可以在短時間內進行各種觀察。此外，還搭載了全新的導航功能“SEM MAP”，這個功能可彌補電子顯微鏡上難以找準視野的缺點，實現直觀的視野移動。
盡管是可放置在桌面上的小巧緊湊型*1電子顯微鏡，仍可實現4.0 nm的分辨率
憑借特的高靈敏度二次電子、背散射電子檢測器、低真空檢測器（UVD*2），可在低加速/低真空下觀察時實現高的畫質
全新的用戶界面，無論用戶的熟練程度如何，都可實現高畫質和高處理能力
全新的定位功能“SEM MAP”，支持觀察時的視野搜索和樣品定位
*1 設置到桌面上時，請將機體與電源盒分離
*2 選項
日立(Hitachi)掃描電子顯微鏡FlexSEM 1000 II規格：
盡管是可放置在桌面上的小巧緊湊型*1電子顯微鏡，仍可實現4.0 nm的分辨率
憑借特的高靈敏度二次電子、背散射電子檢測器、低真空檢測器（UVD*2），可在低加速/低真空下觀察時實現高的畫質
全新的用戶界面，無論用戶的熟練程度如何，都可實現高畫質和高處理能力
全新的定位功能“SEM MAP”，支持觀察時的視野搜索和樣品定位
*1 設置到桌面上時，請將機體與電源盒分離
*2 選項
日立(Hitachi)掃描電子顯微鏡FlexSEM 1000 II規格：
|
項目 |
內容 |
|
分辨率*3 |
4.0 nm（二次電子像、加速電壓：20 kV、高真空模式） |
|
加速電壓 |
0.3 kV～20 kV |
|
倍率 |
×6～×300,000 （照片倍率） |
|
低真空設置 |
6～100 Pa |
|
電子槍 |
預對中鎢燈絲電子槍 |
|
樣品臺 |
3軸馬達驅動樣品臺 |
|
大樣品尺寸 |
直徑80 mm（選配：直徑153mm） |
|
大樣品高度 |
40 mm |
|
尺寸 |
機體：450（寬度）×640（進深）×690（高度） mm |
|
選項 |
高度低真空檢測器（UVD2.0） 能量色散型X射線檢測器（EDS） |
|
軟件 |
Multi Zigzag（連續視野圖像導入功能） |
*PC、桌子、監控器由客戶準備
*3機體和電源盒連接時候
*4使用標準支架時
